測量完此類葉片（含裝夾，建基準(zhǔn)，出報告）單片大約需要15分鐘。
為此我們?yōu)榭蛻籼峁┝朔墙佑|式白光測量解決方案（CORE-DS）
➣ 首先測量效率高：掃描速度高達(dá)100mm/s以該型葉片為例,白光測量僅需6分40秒（含裝夾，建基準(zhǔn)，出報告）。
➣ 測頭校正時間短，測頭一次校正，所有的角度都可以使用。
➣ 不存在掃描測頭加速和減速時的不穩(wěn)定性
➣ 沒有余弦誤差，光點(diǎn)直徑僅為35um，直接測得截面實(shí)際值，不存在測球半徑補(bǔ)償。
余弦誤差示意圖：接觸式接觸的是圖中的7點(diǎn)，測頭補(bǔ)償（4）后得到實(shí)測點(diǎn)3和4的交點(diǎn)，而白光直接測得就是圖示6點(diǎn)。所以不存在3余弦誤差（cosine error）
➣ 無需輔助定位夾具，所有基準(zhǔn)元素均為直接測量，提高了坐標(biāo)系的精度。
➣ 六點(diǎn)預(yù)定位，使掃描更加準(zhǔn)確。在掃描葉型前，會預(yù)先在葉盆，葉背，前尾圓采6點(diǎn)，然后根據(jù)實(shí)際的葉型狀況，來調(diào)整葉型的掃描路徑（平移、旋轉(zhuǎn)，甚至縮緊或者擴(kuò)張）。
➣ 自動根據(jù)曲率變化來分布控制點(diǎn)的疏密。（前尾圓加密，盆背稀疏）
➣ 多種類型的報告可供客戶選擇
另外，客戶根據(jù)自己的實(shí)際需求定制自己喜歡的報告樣式。
➣ 一鍵式測量界面
OPEN_DMIS的Xecute 界面模式是我們專門為操作者而開發(fā)的。用戶只需點(diǎn)擊對應(yīng)被測零件的圖標(biāo)，程序即可自動運(yùn)行，全程看不到程序代碼，保障了程序的安全和測量的高效。
為了進(jìn)一步提高客戶運(yùn)行程序的效率，我們將輸入工件名稱，爐號，工件號這些在程序運(yùn)行中必須輸入的信息移動到了運(yùn)行程序外面，客戶可以把下一片即將測量的號碼預(yù)先寫入到一個TXT內(nèi)，程序運(yùn)行時自動調(diào)取。節(jié)省了機(jī)器的等待時間，此項(xiàng)為客戶節(jié)省約10S。
為客盡可能節(jié)省時間，提高效率，是我們不斷追求的目標(biāo)……
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