美國橡樹山國家實(shí)驗(yàn)室的科研人員最近成功刷新了一項(xiàng)電子顯微鏡的觀測(cè)記錄。這種新型電子顯微鏡的功率為300千瓦，能夠分辨出直徑為0.6埃(光譜線波長單位，等于一厘米的百萬分之一)的微小粒子－－足以讓科學(xué)家們看到單個(gè)的原子。借助它的幫助，物理學(xué)家們成功地獲得了硅晶體中的單個(gè)原子圖像。 　　研究人員介紹稱，新型顯微鏡能夠極大地改善半導(dǎo)體領(lǐng)域的研究條件，推動(dòng)新材料的開發(fā)工作。據(jù)悉，取得這一重要成果的主要秘密在于一項(xiàng)新開發(fā)出的計(jì)算機(jī)成像技術(shù)，它能夠最大限度地挖掘高倍數(shù)電子顯微鏡的潛能。 　　這一新方法被暫時(shí)稱作偏差修正技術(shù)。借助這一技術(shù)，計(jì)算機(jī)能夠及時(shí)地對(duì)電子顯微鏡的透鏡所產(chǎn)生的誤差進(jìn)行修正，從而保障獲得質(zhì)量更高的物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。研究人員因此也突破了先前的觀測(cè)極限，獲取了前所未有的高清晰度原子圖像。 　　橡樹山實(shí)驗(yàn)室的工作人員表示，獲取單個(gè)原子的三維立體圖像將是他們的下一個(gè)目標(biāo)。