在《納米粒子研究雜志》（第5期第10卷）的一篇論文中，馬爾文公司的科學家們提出了實驗性的方案，以對流體力學粒徑小于1納米的顆粒進行測量，精確度達到0.1納米。

      該測量方式采用馬爾文 Zetasizer顆粒表征系統(tǒng)，該系統(tǒng)使用動態(tài)光散射技術（DLS）對粒子尺寸進行測量。其光學配置結合了高靈敏度的探測器與優(yōu)化的光纖配置，這是該系統(tǒng)實現(xiàn)出色靈敏度的關鍵因素。

      以蔗糖為樣本材料進行實驗，結果表明,精確的,可證實的亞納米級測量完全可以實現(xiàn)。論文題為《使用動態(tài)光散射技術測量亞納米級尺寸》，作者Kaszuba, M. et al.目前在網上已開放訪問權限，同時在馬爾文公司的網站上還提供了一份相關的應用說明書，可供用戶免費下載。

      顆粒粒度在很多應用中都是衡量質量優(yōu)劣的關鍵因素，隨著科技的進步，對于越來越小的顆粒和分子的控制也提出了更高的要求。例如，在藥品開發(fā)領域，蛋白質通常被用作活性藥物成分。同時對具有足夠靈敏度、能夠測量納米級尺寸粒子的技術的需求也在不斷增長。蔗糖是一個極端的例子，使用戶能夠對該系統(tǒng)和技術在規(guī)格限制范圍內的能力產生足夠的信心。

      DLS 對激光光散射強度的時變波動進行分析，以測量擴散系數和粒子尺寸。此項研究表明，經過精心的樣本準備和適當的光學配置后，Zetasizer Nano S能夠以亞納米級的規(guī)格準確測量出粒子尺寸。這一結果對于當前以及未來所有需要小分子質量管理的應用來說都具有十分重要的意義。

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